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殘余應(yīng)力的測量方法可以分為有損和無損兩大類。有損測試方法就是應(yīng)力釋放法，也可以稱為機械的方法；無損方法就是物理的方法。機械方法用得多的是鉆孔法（盲孔法），其次還有針對一定對象的環(huán)芯法。物理方法中用得多的是X射線衍射法，其他主要物理方法還有中子衍射法、磁性法、超聲法以及壓痕應(yīng)變法。殘余應(yīng)力的檢測國內(nèi)外均已開展多年，其測定方法可分為機械測定法和物理測定法。機械測定法測定時須將局部分離或分割使應(yīng)力釋放，這就要對工件造成一定損傷甚至破壞，典型的有切槽法和鉆孔法，這方面技術(shù)成熟，理論完...

激光功率計是用來測試連續(xù)激光的功率或者脈沖激光在某一段時間的平均功率的儀器。常用到激光能量計，用來探測重復脈沖激光的單發(fā)能量和單脈沖激光的能量。熱電堆型激光功率計通過熱電堆結(jié)構(gòu)將光能轉(zhuǎn)換成熱量，再轉(zhuǎn)換為電信號輸出，通過校準來測量激光功率的大小。激光功率計一般由探頭和顯示設(shè)備組成，激光功率計探頭按照不同的原理和材料分為熱電堆型、光電二極管型、以及包含兩種傳感器的綜合探頭，激光能量計則有熱釋電傳感器和熱電堆傳感器探頭。激光功率計使用方法1.接上輸入電源線，將光探測器的輸出插到儀器...

應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)(殘余應(yīng)力測量)可以在深紫外（193nm）波段進行應(yīng)力雙折射探測。針對特定材料制作（氟化鈣）和特定形狀（非球面透鏡）的技術(shù)解決方案。應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)，非球面透鏡應(yīng)力雙折射測量，應(yīng)力橢偏儀，應(yīng)力橢偏測量,殘余應(yīng)力測量不規(guī)則非球面光學元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)（應(yīng)力雙折射測量系統(tǒng)）通過對光的調(diào)制解調(diào)可以測出待測光學元件中的雙折射大小和方向，這些數(shù)據(jù)同時也表示了應(yīng)力的大小和方向。這套不規(guī)則非球面光學元件應(yīng)力分布測量系統(tǒng)的傾斜，多角度入射掃描技術(shù)可以保證對非球面不規(guī)則的...

gentec-eo激光能量計由功率傳感器和功率指示器兩部分組成。功率傳感器也稱功率計探頭，它把高頻電信號通過能量轉(zhuǎn)換為可以直接檢測的電信號。本儀器專門為檢測激光二極管組件質(zhì)量、判斷其好壞而設(shè)計的，它具有體積小、性價比高、使用方便等特點。功率指示器包括信號放大、變換和顯示器。顯示器直接顯示功率值。功率傳感器和功率指示器之間用電纜連接。為了適應(yīng)不同頻率、不同功率電平和不同傳輸線結(jié)構(gòu)的需要，一臺功率計要配若干個不同功能的功率計探頭。gentec-eo激光能量計使用方法：接上輸入電源...

激光測厚儀一般是由兩個激光位移傳感器上下對射的方式組成的，上下的兩個傳感器分別測量被測體上表面的位置和下表面的位置，通過計算得到被測體的厚度。激光測厚儀的優(yōu)點在于它采用的是非接觸的測量，相對接觸式測厚儀更精準，不會因為磨損而損失精度。相對超聲波測厚儀精度更高。相對X射線測厚儀沒有輻射污染。激光測厚儀的基本組成是激光器、成像物鏡、光電位敏接收器、信號處理機測量結(jié)果顯示系統(tǒng)。激光束在被測物體表面上形成一個亮的光斑，成像物鏡將該光斑成像到光敏接收器的光敏上，產(chǎn)生探測其敏感面上光斑位...

光束質(zhì)量分析儀是一款符合標準的測量設(shè)備，保持著在該領(lǐng)域的地位。測量過程中，固定的透鏡和高速的自動光學導軌使得相機可以快速的采集到從近場到遠場多個位置的激光光斑，測量、傳輸以及激光功率衰減全部由軟件自動控制。在工作過程中造束腰透鏡和相機位置固定，通過兩片反光鏡在光學導軌上的自動移動，相機就可以的捕捉到從近場到遠場不同位置的激光光斑，再通過軟件進行數(shù)據(jù)分析與計算，從而得到M2值、發(fā)散角、束腰大小等參數(shù)。光束質(zhì)量分析儀在激光行業(yè)的應(yīng)用：1.激光制造業(yè)對于傳統(tǒng)的激光器制造商而言，光束...