歡迎訪問北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站！歡迎訪問北京昊然偉業(yè)光電科技有限公司網(wǎng)站！
熱門關(guān)鍵詞： 測角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測設(shè)備，波片相位延遲，剪切
咨詢熱線
18519585532
當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品中心 > 弱吸收儀 >
產(chǎn)品分類
Product Category相關(guān)文章
Related Articles
LID光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)弱吸收儀采用光熱偏轉(zhuǎn)技術(shù)，用于測量透明光學(xué)材料及鍍膜產(chǎn)品受到激光照射后產(chǎn)生的微弱吸收。在強(qiáng)激光照射下，材料內(nèi)部由于吸收熱能產(chǎn)生折射率梯度現(xiàn)象（熱透鏡效應(yīng)），當(dāng)一束探測光經(jīng)過“熱透鏡”效應(yīng)區(qū)域時(shí)發(fā)生位置偏移，通過PSD位移傳感器測量其位置偏移量。
PCI共光路干涉弱吸收儀測量原理：Pump 光(泵浦光)為一束光束質(zhì)量較好的強(qiáng)激光聚焦到待測樣品上，光吸收的存在將在樣品內(nèi)部產(chǎn)生熱波，從而在樣品內(nèi)部形成周期性的梯度折射率分布，即熱透鏡效應(yīng)，當(dāng)一束Probe beam(探測光)經(jīng)過熱透鏡效應(yīng)區(qū)域與pump光相交時(shí)，探測光在該焦點(diǎn)處波前發(fā)生畸變引起點(diǎn)衍射共路干涉，并產(chǎn)生周期性相位畸變信號。探測器通過探測其相位畸變情況并由鎖相放大器信號處理。
弱吸收儀